本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ISO/IEC15416：2000《信息技術(shù)——自動(dòng)識(shí)別與數(shù)據(jù)采集技術(shù)——條碼符號(hào)印制質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)范——線性符號(hào)》（Informationtechnology—Automatic identification and data capture techniques—Barcode print quality test specifications—Linear symbols)。

    為了增進(jìn)本標(biāo)準(zhǔn)的科學(xué)性和可操作性，本標(biāo)準(zhǔn)在采用ISO/IEC15416時(shí)對(duì)原標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容作了一定的修改。在附錄A列出了本標(biāo)準(zhǔn)章條編號(hào)與ISO/IEC 15416章條編號(hào)的對(duì)照一覽表，在附錄B中給出了主要的技術(shù)差異及其原因的一覽表，以供參考。

    本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T 14258—1993《條碼符號(hào)印制質(zhì)量的檢驗(yàn)》，延用GB/T14258—1993的標(biāo)準(zhǔn)名稱。本標(biāo)準(zhǔn)與GB/T 14258—1993相比主要變化如下：

   ——采用掃描反射率曲線分析法和條碼符號(hào)質(zhì)量分級(jí)法取代了傳統(tǒng)的檢測(cè)條/空尺寸偏差和條/空反射率的方法，對(duì)條碼符號(hào)的印制質(zhì)量進(jìn)行評(píng)價(jià)；

    ——用“缺陷度”取代了“外觀”檢測(cè)項(xiàng)目；

   ——用“最低反射率”、“符號(hào)反差”、“最小邊緣反差”和“調(diào)制比”取代了“條/空反射率”和“印刷對(duì)比度”檢測(cè)項(xiàng)目；

    ——用“可譯碼度”取代了“條/空尺寸偏差”檢測(cè)項(xiàng)目；

   ——取消了“條高”、“數(shù)字、字母尺寸”、“校驗(yàn)碼”、“放大系數(shù)”、“印刷厚度”和“印刷位置”檢測(cè)項(xiàng)目；

    ——增加了“條碼符號(hào)標(biāo)準(zhǔn)、應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范對(duì)掃描反射率曲線的附加要求”檢測(cè)項(xiàng)目；

    ——增加了“條碼符號(hào)標(biāo)準(zhǔn)、應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范規(guī)定對(duì)條碼符號(hào)整體的附加要求”檢測(cè)項(xiàng)目；

   ——在“被檢樣品”一條中，增加了“被檢條碼符號(hào)的狀態(tài)應(yīng)盡可能和被檢條碼符號(hào)的掃描識(shí)讀狀態(tài)一致。”的說(shuō)明。

    本標(biāo)準(zhǔn)的附錄F為規(guī)范性附錄，其他附錄為資料性附錄。

    本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)物品編碼中心提出并歸口。

    本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國(guó)物品編碼中心。

    本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：羅秋科、劉偉、熊立勇、黃燕濱、吳海連、丁煒。

    本標(biāo)準(zhǔn)于1993年首次發(fā)布，這是第一次修訂。